Germany – Scanning probe microscopes – Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)

Description

Gegenstand der Beschaffung ist ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich aller für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten. Das System dient der hochauflösenden Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala, insbesondere für 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie driftarme Langzeitmessungen in Forschungsanwendungen.

Key facts

Procedure

open

Submit via

https://www.evergabe.bayern.de/evergabe.bieter/api/supplier/external/deeplink/subproject/720dd6ee-34a2-4ae8-b2d9-0cb5d7a2b23a

Contact

vergabestelle@uni-bayreuth.de

Regime

publicSector

Category

supplies

Ground given for limiting competition

The buyer’s own stated reason for awarding without open competition, as published. Their assertion, not a finding.

Urgency: Aufgrund einer zeitlich begrenzten Marktsituation sind derzeit kurzfristig verfügbare Lager- und Vorführgeräte zu erheblich reduzierten Konditionen erhältlich. Die Markterkundung ergab ein Einsparpotenzial von über 30 % gegenüber einer Neubeschaffung. Bei Anwendung der regulären Angebotsfrist wäre nicht sichergestellt, dass diese wirtschaftlich besonders vorteilhafte Beschaffungsmöglichkeit zum Zeitpunkt der Zuschlagserteilung noch besteht. Da der Beschaffungsgegenstand standardisiert ist und keine umfangreiche kundenspezifische Konfiguration erfordert, ist eine Angebotsabgabe innerhalb einer auf 15 Tage verkürzten Frist ohne wesentliche Einschränkung des Wettbewerbs möglich. Die Angebotsfrist wird daher gemäß § 15 Abs. 4 VgV verkürzt.