Integrert system for elektrisk karakterisering og probing av halvleder- og nevromorfe komponenter

Description

Universitetet i Oslo skal bygge opp et nytt forskningsmiljø innen nevromorf maskinvare og energieffektiv kunstig intelligens. Aktiviteten skal koble materialutvikling ved Senter for materialvitenskap og nanoteknologi (SMN) med kompetansen innen krets- og systemdesign ved Institutt for informatikk. Et sentralt behov er å kunne karakterisere elektriske komponenter fra tidlig material- og komponentutvikling til mindre arrays og demonstratorer. Dette gjelder blant annet ferroelektriske tunnelkontakter, ferroelektriske transistorer, resistive minnekomponenter og andre komponentkonsepter med relevans for nevromorf elektronikk. Anskaffelsen består av to tekniske hoveddeler (delkontrakt 1 og delkontrakt 2): En modulær enhet for elektrisk måling og karakterisering En semiautomatisk probestasjon med temperaturkontroll

Key facts

Reference

ANSK-26-0181

Procedure

Åpen

Lots

1

Submit via

https://tendsign.com/doc.aspx?MeFormsNoticeId=101663&GoTo=Tender

Contact

Ingrid Denstad

ingrid.denstad@admin.uio.no

+47 22 855050

Bids opened

17 Nov 2026, 00:00 GMT

Regime

foa

Category

Varer