Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
awardedFriedrich-Schiller-Universität Jena
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Value
€218k
Published
12 Nov 2026
Deadline
—
Type
award
38000000 · Laboratory, optical & precision equipmentDEG03
Description
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
Key facts
- Reference
- EU-OV/2026-147
- Procedure
- open
- Lots
- 1
- Contact
- vergabestelle@uni-jena.de000
- Regime
- publicSector
Awarded suppliers
- Jeol (Germany) GmbH · DE21B, DE
Supplier location as published: Freising, DE21B, 85356, DE
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Provenance
- Source
- vergabe-de
- Notice id
- fc63572d-b258-4daf-83d9-acff6a97ba6c
- OCID
- ocds-mnwr74-b78178d8-2541-46cb-884e-9d09107d0f50
- First seen
- 14 Nov 2026
- Last updated
- 14 Nov 2026
Licence CC0 1.0 public domain dedication ↗
Source: Bekanntmachungsservice (oeffentlichevergabe.de), Beschaffungsamt des BMI — CC0 1.0.
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